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MHS400V-4P探針冷熱臺是一款專門針對半導(dǎo)體芯片研發(fā)、測試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品。這款探針冷熱臺擁有高精度的探針位移平臺，具有良好的真空性能和精準(zhǔn)的溫控系統(tǒng)。

MHS-P600G探針冷熱臺是一款針對材料研究過程中變溫電學(xué)測試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征材料升溫和降溫階段，其電學(xué)性能隨溫度變化的特征。 熱臺可以搭配顯微鏡，光譜儀，XRD等光學(xué)設(shè)備。 MHS-P600G可以在-196℃~600℃之間快速且精準(zhǔn)的控制樣品的溫度，實(shí)現(xiàn)樣品在氣密環(huán)境下的變溫光學(xué)觀察及測試。